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謎底終於揭開!Google揭秘SSD可靠性之謎!

2016-02-29 1408
最近,Google工程師Raghav Lagisetty、Arif Merchant和加拿大多倫多大學教授Bianca Schroeder聯合發表了一篇論文《Flash的實際可靠性:意料之中與意料之外》(Flash Reliability in Production: The Expected and the Unexpected),得出了一些驚人的結論!

 


這項研究歷時長達6年,覆蓋了十多種SSD的品牌,企業級和消費級產品都有,SLC、MLC、TLC三種Flash類型都有,加起來一共跑了幾百萬天。

 

主要結論:

1、不可糾正比特錯誤率(UBER)這個參數毫無意義,不要理會它。

2、好消息:原始比特錯誤率(RBER)在使用損耗中的增長速度比預期得要慢,而且與UBER後者其他錯誤無關。

3、高階的SLC並不比MLC更可靠。

4、壞消息:SSD的故障失敗率比機械HDD低,但是UBER更高。

5、影響SSD可靠性的是其年齡,而不是使用程度。簡單地說,一塊閒置了兩年的SSD還不如一塊使用了一年的更靠譜。

6、全新的SSD裡也會普遍有壞區。如果一塊SSD裡有大量壞區,可能會影響其他更多區塊,導致芯片損壞。

7、30-80% SSD起初就有至少一個壞區,2-7%使用四年後會有至少一個芯片損壞。

 

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