謎底終於揭開！Google揭秘SSD可靠性之謎！
2016-02-29 6160
最近，Google工程師Raghav Lagisetty、Arif Merchant和加拿大多倫多大學教授Bianca Schroeder聯合發表了一篇論文《Flash的實際可靠性：意料之中與意料之外》(Flash Reliability in Production: The Expected and the Unexpected)，得出了一些驚人的結論！
這項研究歷時長達6年，覆蓋了十多種SSD的品牌，企業級和消費級產品都有，SLC、MLC、TLC三種Flash類型都有，加起來一共跑了幾百萬天。
主要結論：
1、不可糾正比特錯誤率(UBER)這個參數毫無意義，不要理會它。
2、好消息：原始比特錯誤率(RBER)在使用損耗中的增長速度比預期得要慢，而且與UBER後者其他錯誤無關。
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3、高階的SLC並不比MLC更可靠。
4、壞消息：SSD的故障失敗率比機械HDD低，但是UBER更高。
5、影響SSD可靠性的是其年齡，而不是使用程度。簡單地說，一塊閒置了兩年的SSD還不如一塊使用了一年的更靠譜。
6、全新的SSD裡也會普遍有壞區。如果一塊SSD裡有大量壞區，可能會影響其他更多區塊，導致芯片損壞。
7、30-80％ SSD起初就有至少一個壞區，2-7％使用四年後會有至少一個芯片損壞。